電子機器の高速化に伴い、その設計方法及び評価方法は以前とは違いより複雑なものとなってきています。設計者に高度な技術を要求される中、この度、アジレント・テクノロジー株式会社様のご協力を得て、複数回にわたるセミナーを実施することになりました。対象分野としては、プリント基板の設計評価技術を軸とし、いわゆる昨今の高速ディジタルにおけるシグナル・インテグリティと、W-LANやUWBなど無線技術に着目し、EDA（CAD）ツールを使用した設計から測定器での実評価についての内容を予定しています。また、基礎的内容にとどまらず、最新かつ実践的内容も可能な限り盛り込む予定です。<br>　今回は第１段として、以下の２テーマについてセミナーを実施します。
　・テーマ１　デジタル・デザイナのためのＳパラメータ測定入門
【内容】
　最新の高速伝送線路評価においては、リターンロスや伝送損失の評価が必要となっていますが、これらはSパラメータ測定から得ることができます。このセッションでは、これらの評価項目が何を意味しているのか、なぜその評価が必要になるのかを、従来の、インピーダンスやアイパターンの評価と関連づけて説明いたします。また、通常インピーダンスはTDRオシロスコープ、Sパラメータはネットワークアナライザで測定を行いますが、これら測定器の違い、使い分けについても紹介いたします。
　・テーマ２　高速伝送路評価の基礎と要点
【内容】
　高速デジタル信号でデジタル・エンジニアの直面する問題を概観し、シグナルインティグリティ確保に向けた評価方法の基礎を解説します。時間ドメインにおける特性インピーダンス評価をベースに最近一般的になりつつある周波数ドメインでの評価方法とどのように使い分けていくのかを、実際の測定例を示しながら両ドメイン同時解析の重要性をご紹介します。
今後、第２段としてEDA関連及びSI、第３段としてワイヤレス関連も予定(セミナー後のアンケートにより内容変更の可能性あり)しておりますので、各回通して受講されることをお勧めします。